1. Designing, testing, and diagnostics- join them
المؤلف: International Test conference )3991: Baltimore, Md.(
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Testing- congresses,، Electronic digital computers- Circuits- Testing-Congresses
رده :
TK
7874
.
I474
1993
2. Proceedings
المؤلف: International Test Conference
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Computer storage devices-- Congresses,، Integrated circuits-- Testing-- Congresses,، Semiconductor storage devices-- Testing-- Congresses
رده :
TK
7874
.
I474
3. Proceedings of the...International Conference on Microelectronic Test Structures
المؤلف: IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Testing - Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
I3233
1994
